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| 品牌LANGER EMV-Technik | 有效期至長期有效 | 最后更新2021-04-22 14:40 |
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近場探頭套件LF1包含四個屏蔽無源近場探頭,用于電子組件上LW,MW和KW范圍內(nèi)HF磁場的發(fā)展伴隨測量。Set LF1的探頭可以逐步定位模塊上的干擾發(fā)射源。
首先,使用LF-R 400探頭從更遠的距離確定模塊的干擾發(fā)射。此外,使用更高分辨率的探頭LF-B 3,LF-U 5和LF-U 2.5,可以更精確地定位干擾源。
這些探頭可以對單個引腳,較大的組件和結(jié)構(gòu)部件進行測量。近場探頭小巧方便。它們具有護套電流阻尼并且被電屏蔽。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。
磁場探頭LF-B 3的測量線圈與探頭軸正交。當(dāng)探頭垂直放置時,測量線圈直接位于印刷電路板的表面上。結(jié)果,在電路板表面難以到達的位置進行了測量,例如在大型建筑物之間。
LANGER,德國LANGER掃描儀,LANGER近場探頭
LANGER主要產(chǎn)品和型號
1、LANGER主要產(chǎn)品
德國LANGER掃描儀
德國LANGER掃描探頭
德國LANGER探測頭
德國LANGER放大器
德國LANGER近場探頭
LANGER產(chǎn)品型號
德國LANGER磁場探頭100 KHz至50 MHz
德國LANGER LF-R 50,H場探頭100 KHz至50 MHz
德國LANGER磁場探頭100 KHz至50 MHz
德國LANGER BD06B、BD01B、BD01E、BD11、MFA 01、XF 1
德國LANGER SX、MFA01、MFA02、SX1、XF1、XF、RF1、RF2
德國LANGER RF3、RF4-E、RF-E、LF1、LF、PA203、PA303、RFS、VM251
德國LANGER 前置放大器PA 306 SMA SET(100kHz-6GHz)
德國LANGER 近場探頭組SX1 SET(1GHz-10GHz)
德國LANGER 近場探頭組XF1 SET(30MHz-6GHz)
Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究,開發(fā)和生產(chǎn)的最前沿。通過EMC實驗研討會和EMC研討會,我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R。
我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統(tǒng)主要用于開發(fā)階段,并且在全球范圍內(nèi)都有需求。
產(chǎn)品展示
PCB抗擾度
測量系統(tǒng)和EMC工具,用于進行組件和設(shè)備的抗擾性測試和分析
PCB發(fā)射
在開發(fā)階段用于組件和設(shè)備排放分析的測量系統(tǒng)和EMC工具
測量和校準(zhǔn)站
測量和校準(zhǔn)站用于校準(zhǔn)EMC測量儀器并確定連接器的EMC參數(shù)。
教學(xué)與培訓(xùn)測量技術(shù)
EMC實驗的模型裝配
IC測量技術(shù)
借助IC(集成電路)測試系統(tǒng),開發(fā)人員可以在特定干擾(傳導(dǎo)和輻射)或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運行中經(jīng)過了測試。
RF2設(shè)置的30 MHz至3 GHz近場探頭
供貨范圍:1個RF-R 400-1、1個RF-R 50-1、1個RF-U 5-2,
1個RF-B 3-2、1個SMB-BNC 1 m,1個案例4+
原產(chǎn)國:德國
LANGER EMV-Technik 電磁探頭簡介
工作日
9:00-18:00